Das eBook Angewandte Mikroelektronik wurde von Hans Lohninger zur Unterstützung verschiedener Lehrveranstaltungen geschrieben. Weitere Informationen finden sie hier. |
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RAM-Test
;=================================================== ;---- Experiment: RAM-Test ------------------------- ;=================================================== ; .GLOBAL RAMTST RAMTST: IN A,(DIPSW) ;Testadresse lesen LD H,A LD L,0 ;HL enthält Adresse IN A,(PIN) ;Wert von PIN einlesen LD (HL),A ;Wert in RAM speichern LD A,(HL) ;gespeich. Wert lesen OUT (POUT),A ;Wert an POUT ausgeben JR RAMTST ;Schleife
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