Das eBook Angewandte Mikroelektronik wurde von Hans Lohninger zur Unterstützung verschiedener Lehrveranstaltungen geschrieben. Weitere Informationen finden sie hier.


RAM-Test

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;---- Experiment: RAM-Test -------------------------
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            .GLOBAL RAMTST
RAMTST:     IN      A,(DIPSW)   ;Testadresse lesen
            LD      H,A
            LD      L,0         ;HL enthält Adresse
            IN      A,(PIN)     ;Wert von PIN einlesen
            LD      (HL),A      ;Wert in RAM speichern
            LD      A,(HL)      ;gespeich. Wert lesen
            OUT     (POUT),A    ;Wert an POUT ausgeben
            JR      RAMTST      ;Schleife


Last Update: 2008-05-31